| 低溫試驗(yàn)室可靠性的第三方實(shí)驗(yàn)室機(jī)構(gòu)找114實(shí)驗(yàn)室 |
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北京儀綜測(cè)業(yè)科技發(fā)展有限公司
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| 所屬行業(yè)：檢測(cè)服務(wù) | 主要客戶：電工電子，軌道交通，汽車電子 | |
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高低溫測(cè)試(www.test114.com.cn)主要針對(duì)的范圍包括電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料，測(cè)試的嚴(yán)格程度取決于高低溫呢的溫度和持續(xù)測(cè)試時(shí)間。高低溫溫可能使產(chǎn)品過(guò)熱,影響使用安全可靠性試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高/低溫、濕度和曝露持續(xù)時(shí)間。 高低溫測(cè)試 高溫試驗(yàn)詳細(xì)介紹:本試驗(yàn)是用來(lái)確定產(chǎn)品在高溫氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。
測(cè)試項(xiàng)目：低溫、高溫測(cè)試 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：GB/T2423.1-2008、GB/T2423.2-2008 測(cè)試樣品：電工電子產(chǎn)品 （低溫運(yùn)行、低溫貯存）試驗(yàn)的目的是檢驗(yàn)試件能否在長(zhǎng)期的低溫環(huán)境中儲(chǔ)藏、操縱控制，是確定軍民用設(shè)備在低溫條件下儲(chǔ)存和工作的適應(yīng)性及耐久性。低溫下材料物理化學(xué)性能。標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)于試驗(yàn)前處理、試驗(yàn)初始檢測(cè)、樣品安裝、中間檢測(cè)、試驗(yàn)后處理、升溫速度、溫度柜負(fù)載條件、被測(cè)物與溫度柜體積比等均有規(guī)范要求。主要用于科研研究、醫(yī)遼用品的保存、生物制品、遠(yuǎn)洋制品、電子元件、化工材料等特殊材料的低溫實(shí)驗(yàn)及儲(chǔ)存。 低溫條件下試件的失效模式：產(chǎn)品所使用零件、材料在低溫時(shí)可能發(fā)生龜裂、脆化、可動(dòng)部卡死、特性改變等現(xiàn)象。
低溫環(huán)境對(duì)設(shè)備的主要影響有： a. 使材料發(fā)硬變脆； b. 潤(rùn)滑劑粘度增加，流動(dòng)能力降低，潤(rùn)滑作用減小； c. 電子元器件性能發(fā)生變化； d. 水冷凝結(jié)冰； e. 密封件失效； f. 材料收縮造成機(jī)械結(jié)構(gòu)變化。 低溫測(cè)試目的：用來(lái)確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力。
低溫測(cè)試的溫度有： -65℃ -55℃ -50℃ -40℃ -33℃ -25℃ -20℃ -10℃ -5℃ +5℃
了解更多114實(shí)驗(yàn)室：136-9109-3503 |
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