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測 量 范 圍 ：

０．１～２００ (×10-12/Pa) 前 后

重復精 度 * ：

２％以下

以 TAC（三乙酰纖維素）薄膜作為被測樣品測量時

測 量 方 法 ：

（１） 壓縮模式； 

對類似于普通玻璃的硬質樣品施加壓縮載荷進行測量的模式（標準樣品形狀；φ20，t15mm）

（２） 拉伸模式； 

            對類似于薄膜的軟質樣品施加拉伸載荷進行測量的模式

（有關例如啞鈴形或條形薄膜等其他形狀的樣品，將另行協商） 

（利用初始雙折射量校準功能，可以使該測量不受樣品初始條件的影響）

載 荷 范 圍 ：

０～５０N （最小每 0.1N 程序）

轉換模式：

壓縮模式及拉伸模式

驅動系統 ：

采用步進馬達同時驅動左右螺釘

模式切換：

可通過軟件切換（但是，樣品卡盤需要手動切換）

拉伸/壓縮速度：

０．０１～１００mm/min

拉伸/壓縮距離：

１００mm MAX

稱重傳感器：

額定 50N （可更換為 200N,1000N）

測 量 項 目 ：

○ 雙折射相位差：Re

（光學相位差：δ）

○ 主軸方位角：φ 

測 量 范 圍 ：

0～260nm

（0～150deg.）

0±90deg.

解 析 度 ： 

0.01nm

（0.006deg.）

0.1deg.

重 復 精 度 ：

±0.5nm

（±0.3deg.）

±0.5deg.

（水晶材質的相位差板（1/4λ）在正常的檢驗室環境下測量的實際值

為3σ）

測 量 時 間 ：

3秒以下/測量點（同時測量相位差及方位角）

測 量 原 理 ：

光學外差測量法（雙折射量 Re，主軸方位角 φ）

光 源 ： 

He-Ne 激光（λ=633nm;輸出 2mW) [穩頻橫向 Zeeman 激光器]

光 束 直 徑 ：

φ0.75mm（１／ｅ２）