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由于是使用脈沖電壓激勵(lì)法作為測量原理的非接觸電阻測量系統(tǒng)，因此可以在不損壞樣品的情況下進(jìn)行測量。

日本napson非接觸脈沖電壓激勵(lì)法超低電阻計(jì)

• 節(jié)省空間的設(shè)計(jì)主體外殼，便攜式可移動平臺

• 通過PC（專用軟件）進(jìn)行簡單的測量操作，數(shù)據(jù)存儲和管理

• 測量顯示單元可以根據(jù)應(yīng)用（薄層電阻，電導(dǎo)率，電導(dǎo)率）進(jìn)行更改

  *本產(chǎn)品使用由我公司與千葉大學(xué)聯(lián)合開發(fā)的脈沖電壓激勵(lì)方法（篆隸號5386394）。

測量規(guī)格

測量目標(biāo)

與新材料/功能材料相關(guān)（碳納米管，DLC，石墨烯，銀納米線等）與
導(dǎo)電薄膜相關(guān)（金屬，ITO等）
與化合物半導(dǎo)體相關(guān)（GaAs Epi，GaN Epi，InP，Ga等）
其他（*查詢）請給我）

測量尺寸

?A4尺寸（W300 x D210mm）

測量范圍

50μ?1mΩ/平方

• 節(jié)省空間的設(shè)計(jì)主體外殼，便攜式可移動平臺

• 通過PC（專用軟件）進(jìn)行簡單的測量操作，數(shù)據(jù)存儲和管理

• 測量顯示單元可以根據(jù)應(yīng)用（薄層電阻，電導(dǎo)率，電導(dǎo)率）進(jìn)行更改

  *本產(chǎn)品使用由我公司與千葉大學(xué)聯(lián)合開發(fā)的脈沖電壓激勵(lì)方法（篆隸號5386394）。

測量規(guī)格

測量目標(biāo)

與新材料/功能材料相關(guān)（碳納米管，DLC，石墨烯，銀納米線等）與
導(dǎo)電薄膜相關(guān)（金屬，ITO等）
與化合物半導(dǎo)體相關(guān)（GaAs Epi，GaN Epi，InP，Ga等）
其他（*查詢）請給我）

測量尺寸

?A4尺寸（W300 x D210mm）

測量范圍

50μ?1mΩ/平方

日本napson非接觸脈沖電壓激勵(lì)法超低電阻計(jì)