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QIII表面微粒子計(jì)數(shù)器 表面潔凈分析儀

表面塵埃粒子理化分析儀 0.1-5um

美國(guó)PentagonTechnologiesQIII是一款用于測(cè)量和檢測(cè)機(jī)表面微粒子(SPD)的精密儀器，它采用日前最先進(jìn)的技術(shù)來(lái)實(shí)現(xiàn)量測(cè)的精確性和機(jī)臺(tái)的穩(wěn)定性。人的肉眼很難看清直徑在100um以下的粒子，這些粒子會(huì)快速沉降，逃避常規(guī)的空氣檢測(cè)從而聚積在關(guān)鍵表面或產(chǎn)品上，從而減少產(chǎn)品的良率及降低產(chǎn)品的穩(wěn)定性，QIIIST表面粒子檢測(cè)器測(cè)量（0.1~5um）的粒子，對(duì)于生產(chǎn)環(huán)境的控制，提升產(chǎn)品的良率都起到了很大的作用，能夠幫助企業(yè)更快捷的實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)化管理。

優(yōu)勢(shì)

? 快速測(cè)量表面顆粒

? 可以幫忙控制機(jī)臺(tái)產(chǎn)品上的顆粒物從而提高產(chǎn)量

? 通過(guò)快速識(shí)別粒子源，減少故障排除時(shí)間

? 可以監(jiān)測(cè)物料，來(lái)料，以及Parts上的Particle

? 減少PM的周期

? 符合 ISO 14644-9表面粒子操作規(guī)范

? 減少粒子相關(guān)故障

樣本數(shù)據(jù)：

技術(shù)描述：

? Particle 測(cè)量范圍: 0.1um - 5um

? 粒徑通道: 0.1, 0.2, 0.3, 1.0, 3.0, 5.0um

? 激光源: 鐳射激光

? 尺寸 & 重量: 30.5cm X 30.5cm X 22.9 cm, 13.2公斤

? 電池:2塊可熱插拔鋰電池

? 顯示: 7” 英寸WVGA觸摸屏

? 數(shù)據(jù)顯示: 顆/平方厘米,顆/平方英寸,顆

? 可智能分析測(cè)試數(shù)據(jù)平均值

? 數(shù)據(jù)輸出: USB,以太網(wǎng), WiFi（選配）

? 探頭包含: ? ” 英寸直角探頭.

? 輸入功率: 100-240 VAC, 50/60 hz

? 取樣模式: 靜態(tài)取樣和動(dòng)態(tài)取樣

? CE認(rèn)證

? 語(yǔ)言: 英語(yǔ), 中文, 日文, 韓文

? 美國(guó)制造

表面塵埃粒子理化分析儀0.3-10um

美國(guó) Pentagon Technologies QIII 是一款用于測(cè)量和檢測(cè)機(jī)臺(tái)表面微粒子（SPD）的精密儀器，它采用目前最先進(jìn)的技術(shù)來(lái)實(shí)現(xiàn)量測(cè)的精確性和機(jī)臺(tái)的穩(wěn)定性。人的肉眼很難看清直徑在 100um 以下的粒子，這些粒子會(huì)快速沉降，逃避常規(guī)的空氣檢測(cè)從而聚積在關(guān)鍵表面或產(chǎn)品上，從而減少產(chǎn)品的良率及降低產(chǎn)品的穩(wěn)定性，QIII SM 表面粒子檢測(cè)器測(cè)（0.3~10 um）的粒子，對(duì)于生產(chǎn)環(huán)境的控制，提升產(chǎn)品的良率都起到了很大的作用，能夠幫助企業(yè)更快捷的實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)化管理。

優(yōu)勢(shì)

? 快速測(cè)量表面顆粒

? 可以幫忙控制機(jī)臺(tái)產(chǎn)品上的顆粒物從而提高產(chǎn)量

? 通過(guò)快速識(shí)別粒子源，減少故障排除時(shí)間

? 可以監(jiān)測(cè)物料，來(lái)料，以及Parts上的Particle

? 減少PM的周期

? 符合 ISO 14644-9表面粒子操作規(guī)范

? 減少粒子相關(guān)故障

樣本數(shù)據(jù)

技術(shù)描述：

? Particle 測(cè)量范圍: 0.3um -10um

? 粒徑通道: 0.3, 0.5, 1.0, 3.0, 5.0, 10.0um

? 激光源: 鐳射激光

? 尺寸 & 重量: 30.5cm X 26.7cmX 22.9cm, 8.4 公斤

? 電池:2塊可熱插拔鋰電池

? 顯示: 7” 英寸WVGA觸摸屏

? 數(shù)據(jù)顯示: 顆/平方厘米,顆/平方英寸,顆

? 可智能分析測(cè)試數(shù)據(jù)平均值

? 數(shù)據(jù)輸出: USB,以太網(wǎng), WiFi（選配）

? 探頭包含: ?” 英寸直角探頭.

? 輸入功率: 100-240 VAC, 50/60 hz

? 取樣模式: 靜態(tài)取樣和動(dòng)態(tài)取樣

? CE認(rèn)證

? 語(yǔ)言: 英語(yǔ), 中文, 日文, 韓文

? 美國(guó)制造

表面塵埃粒子理化分析儀 5-125um

美國(guó) Pentagon Technologies QIII 是一款用于測(cè)量和檢測(cè)機(jī)臺(tái)表面微粒子（SPD）的精密儀器，它采用目前最先進(jìn)的技術(shù)來(lái)實(shí)現(xiàn)量測(cè)的精確性和機(jī)臺(tái)的穩(wěn)定性。人的肉眼很難看清直徑在 100um 以下的粒子，這些粒子會(huì)快速沉降，逃避常規(guī)的空氣檢測(cè)從而聚積在關(guān)鍵表面或產(chǎn)品上，從而減少產(chǎn)品的良率及降低產(chǎn)品的穩(wěn)定性，QIII SX 表面粒子檢測(cè)器測(cè)量（5~12 5 um）的粒子，對(duì)于生產(chǎn)環(huán)境的控制，提升產(chǎn)品的良率都起到了很大的作用，能夠幫助企業(yè)更快捷的實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)化管理。

優(yōu)勢(shì)：

? 快速測(cè)量表面顆粒

? 可以幫忙控制機(jī)臺(tái)產(chǎn)品上的顆粒物從而提高產(chǎn)量

? 通過(guò)快速識(shí)別粒子源，減少故障排除時(shí)間

? 可以監(jiān)測(cè)物料，來(lái)料，以及Parts上的Particle

? 減少PM的周期

? 符合 ISO 14644-9表面粒子操作規(guī)范

? 減少粒子相關(guān)故障

樣本數(shù)據(jù)

? Particle 測(cè)量范圍: 5um - 125um

? 粒徑通道: 5, 10, 25, 50, 100, 125um

? 激光源: 鐳射激光

? 尺寸 & 重量: 3 0 .5 cm X 27cm X 22.8cm, 8.4公斤

? 電池:2塊可熱插拔鋰電池

? 顯示: 7” 英寸WVGA觸摸屏

? 數(shù)據(jù)顯示: 顆/平方厘米,顆/平方英寸,顆

? 可智能分析測(cè)試數(shù)據(jù)平均值

? 數(shù)據(jù)輸出: USB,以太網(wǎng), WiFi（選配）

? 探頭包含: ?” 英寸直角探頭.

? 輸入功率: 100-240 VAC, 50/60 hz

? 取樣模式: 靜態(tài)取樣和動(dòng)態(tài)取樣

? CE認(rèn)證

? 語(yǔ)言: 英語(yǔ), 中文, 日文, 韓文

? 美國(guó)制造

可選配件

客戶需求探頭: 可以按照客戶需求定制合適的探頭.

Part icle收集探頭:可以將Particle收集起來(lái)

可選額外的電池.