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2606B 高密度系統 SourceMeter (SMU) 儀器在 1U 高的機箱中提供四條 20 瓦 SMU 通道。由于制造商需要優化占地空間并減少測試時間和成本，2606B 將密度提高 3 倍、提高吞吐量并盡量減少增加測試設備機架的需求。此 SMU 為測試激光二極管、LED、2 和 3 端子半導體等生產的理想解決方案。

KEITHLEY 2606B 高密度 SourceMeter SMU 儀器 概述

將密度提高 3 倍
當生產測試機架空間增加且您需要盡量減少增加新測試機架的需求時，與傳統 2U 外形的 SMU 相比，2606B 可以在同一機架區域中增加更多通道容量。

• 方便堆疊和安放
• 無需增加 1U 隔熱間距
• 相同機架空間內的通道數提高 3 倍
• 通道數相同但占用空間減少 3 倍

兼具兩臺 2602B 的功能
在 1 U 外形中體驗相當于業內領先的 Keithley 2602B 系統 SourceMeter 的先進測量完整性、同步、速度和精度。2606B 也與 2602B 使用同樣的模擬、數字 I/O 和 TSP Link 連接器，實現無縫遷移。

• 0.015% 基本測量精度
• 6 1/2 位分辨率
• 100nA 低電流范圍與 2pA 靈敏度
• 8 針 Phoenix 模擬和 25 針數字 I/O 連接器

系統性能提供的生產吞吐量
測試腳本處理器 (TSP?) 技術可在 SMU 儀器內嵌入和執行完整測試程序，提供業界性能。TSP-Link? 技術支持擴展多達 64 條通道，支持高速、SMU-per-pin 并行測試（而不使用主機）。<500 ns 時所有通道同時獨立受控。

• 消除與 PC 之間耗時的總線通信
• 兼容儀器 2602B SourceMeter 的 TSP 腳本代碼
• 連接多達 32 個 TSP-Link 節點或 64 條獨立 SMU 通道
• 隨著測試要求變化輕松重新配置

KEITHLEY 2606B 高密度 SourceMeter SMU 儀器 型號

KEITHLEY 2606B 高密度 SourceMeter SMU 儀器 應用

3D 傳感應用的激光二極管 (VCSEL) 生產測試
適合激光二極管 (LD) 生產測試的業界直流測試系統，采用高速高精度 SMU 進行激光二極管模塊光電二極管電流的電流源和電壓-電流監測。 SMU 是最經濟實惠的 LIV 儀器，系統同步和吞吐量高。

• 可編程電流源可達 3 A 電流和 100 ?s 脈沖寬度
• 電壓和電流測量分辨率為 100 nV 和 0.1 fA
• 內置 TSP 處理功能可減少 PC 儀器總線通信

LED 的大批量生產測試
2606B SMU 是業內領先的儀器，用于 LED 直流檢定和生產測試。其可配置為源電流或電壓并結合 0.015% 基本測量精度的電壓和電流測量，滿足各種測試需求。此外，測試腳本處理器 (TSP?) 技術還具有吞吐量優勢。

• 可編程電流源可達 3 A 電流和 100 ?s 脈沖寬度
• 電壓和電流測量分辨率為 100 nV 和 0.1 fA
• 內置 TSP 處理功能可減少 PC 儀器總線通信
• 多達 64 條通道的菊花鏈，實現大批量并行測試

使用多通道 SMU 儀器檢定晶體管
憑借其集成源和測量、電壓或電流、精密度和準確度，2606B 系統 SourceMeter SMU 儀器非常適合測晶片上或包裝零件內的晶體管，包括捕獲漏電波形系列、門限電壓、門電路漏電和跨導。

• 可編程電流源可達 3 A 電流和 100 ?s 脈沖寬度
• 電壓和電流測量分辨率為 100 nV 和 0.1 fA
• 精度 0.015%，6? 位分辨率
• 內置 TSP 處理功能可減少 PC 儀器總線通信

KEITHLEY 2606B 高密度 SourceMeter SMU 儀器 附件