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8563E頻譜分析儀廣西E4407B

HP8563E使用環境指標：預熱時間：在普通環境條件下為5分鐘

溫度：-10°～+55℃（工作時）；-51°～+71℃（不工作時）

濕度：95%，在40℃條件下持續5天

防水性：在16升/小時/英尺2的雨量下不透水

高度：15000英尺（工作時）；50000英尺（不工作時） 

HP8563E 能從30Hz連接掃描到26.5GHz

·分辨帶寬1Hz至100Hz，數字式

8563E頻譜分析儀廣西E4407B測量速度

·低的相位噪聲和大的動態范圍

·精密時基和1Hz計數器分辨率

·鄰近信道功率、信道功率、載波

功率和選通視頻測量標準

·牢固耐用、符合3類標準

·彩色屏幕

·VGA輸出 

Agilent 8563E提供過去只有更大、更昂貴臺式分析儀才具備的測量能力和性能。該分析儀的標準頻率范圍為9kHz至26.5GHz(預選2.75GHz至26.5GHz)，具有可選至30Hz的低端頻率覆蓋。 

8563E使用堅固的MIL機箱，兼具優異的相噪、靈敏度、1Hz分辨率帶寬、合成定時和寬動態范圍，能經受惡劣的環境條件。 

8563E頻譜分析儀廣西E4407B技術指標

頻率范圍（內混頻）：

8560EC：30Hz～2.9GHz

8561EC：30Hz～6.5GHz

8562EC：30Hz～13.2GHz

8563EC：9kHz～26.5GHz;30Hz～26.5GHz（選件006）

8564EC：9kHz～40GHz;30Hz～40GHz（選件006）

8565EC：9kHz～50GHz;30Hz～50GHz（選件006）

頻率范圍(外混頻)：18GHz～325GHz分12個波導頻段（不能由8560EC選件002提供）

脈沖沖擊（半正弦）：30g,持續11ms

運輸拖架：有6個面和8個拐角的8英寸拖架

電磁兼容性：傳導和輻射干擾符合CISPR Pub.11(1990)。除某些

指標外，均滿足MIL-STD-461 C part4標準。

8563E頻譜分析儀廣西E4407B電源要求

用115Vac工作：90～140V rms,3.2A rms max,47～440Hz

用230Vac 工作：180～250V rms,1.8Arms max,47～66Hz

大功耗;180W（8560EC/61EC/62EC/63EC）;260W（8564EC/65EC）

聲頻噪音（額定值）：在室溫下，強度＜5.0貝爾（ISODP 7779）

尺寸（不帶手把，支架，面罩）：337mm(寬)×187mm(高)×461mm(長)

重量（搬運重量，額定值）：20kg

選件002內置跟蹤發生器（只用于8560EC）

頻率范圍：300KHz～2.9GHz

精度(取峰值之后)：±(基準頻率精度×調諧頻率+5%×間隔

+295Hz)

跟蹤漂移（額定值）：5分鐘預熱之后，可用于1KHz RBW：30

分鐘預防熱之后，可用于300Hz RBW

小RBW：300Hz

幅度輸出電平：-10～+1dBm；-10～2.8dBm(典型值)

分辨率：0.1dB

精度（25℃±10℃）

微調：±0.2dB/dB,±0.5dBmax

精度：0.75dB

電平平坦度：±2.0dB

動態范圍：95dB(300KHz～1MHz)； 115dB(1MHz～2.0GHz)；110dB(2.0GHz～2.9GHz)

功率掃描：10dB范圍，0.1dB分辨率

輸入/輸出

RF輸出（前面板）：N型（陰），50Ω（額定）

外ALC輸入（后面板）：BNC（陰），與負向檢波器一起使用

E4401B 頻率范圍9K-1.5G頻譜分析儀
E4402B 頻率范圍9K-3G頻譜分析儀
E4403B 頻率范圍9K-3G頻譜分析儀
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出售安捷倫E4407B頻譜分析儀
E4407B 是安捷倫的 26.5 GHz 頻譜分析儀。頻譜分析儀測量已知和未知信號的頻譜功率。頻譜分析儀收集信息，例如輸入信號與其頻率相比的幅度。作為頻率分析儀，頻譜分析儀的主要用途是記錄和分析電輸入信號以及其他信號的頻譜成分。
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E4407B安捷倫 Agilent ESA-E系列是能適應未來需要的Agilent中性能頻譜分析儀解決方 案。該系列在測量速度、動態范圍、精度和功率分辨能力上，都為類似價位的 產品建立了性能標準。
詳細描述:
Agilent ESA-E系列是能適應未來需要的Agilent中性能頻譜分析儀解決方

案。該系列在測量速度、動態范圍、精度和功率分辨能力上，都為類似價位的

產品建立了性能標準。它靈活的平臺設計使研發、制造和現場服務工程師能自

定義產品，以滿足特定測試要求，和在需要時用新的特性升級產品。該產品采

用單鍵測量解決方案，并具有易于瀏覽的用戶界面和高速測量的性能，使工程

師能把較少的時間用于測試，而把更多的時間用在元件和產品的設計、制作和

查錯上。