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探針根據(jù)電子測(cè)試用途可分為:A、光電路板測(cè)試探針:未安裝元器件前的電路板測(cè)試和只開路、短路檢測(cè)探針，國(guó)內(nèi)大部分的探針產(chǎn)品均可替代進(jìn)口產(chǎn)品;

B、在線:PCB線路板安裝元器件后的檢測(cè)探針;高端產(chǎn)品的核心技術(shù)還是掌握在國(guó)外公司手中，國(guó)內(nèi)部分探針產(chǎn)品已研發(fā)成功，可替代進(jìn)口探針產(chǎn)品;

C、微電子測(cè)試探針:即晶圓測(cè)試或芯片IC檢測(cè)探針，核心技術(shù)還是掌握在國(guó)外公司手中，國(guó)內(nèi)生產(chǎn)廠商積極參與研發(fā)，但只有一小部分成功生產(chǎn)。

探針主要類型:懸臂探針和垂直探針。

懸臂探針:劈刀型(Blade Type)和環(huán)氧樹脂型(Epoxy Type)

垂直探針:垂直型(Vertical Type)

1.ICT探針 (ICT series Probes)

一般直徑在2.54mm-1.27mm之間，有業(yè)內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)稱呼100mil,75mil,50mil,還有更特別的直徑只有0.19mm,主要用于在線電路測(cè)試.也稱ICT測(cè)試和FCT測(cè)試.也是目應(yīng)用較多的一種探針.

2.界面探針(Interface Probes)

非標(biāo)準(zhǔn)的探針，一般是為少數(shù)做大型測(cè)試機(jī)臺(tái)的客戶定做的，例如泰瑞達(dá)(Teradyne)和安捷倫(Agilent).用于測(cè)試機(jī)臺(tái)與測(cè)試夾具的接觸點(diǎn)和面.

3.微型探針(MicroSeries Probes)

兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)一般為0.25mm至0.76mm.

4.開關(guān)探針(Switch Probes)

開關(guān)探針單獨(dú)一支探針有兩路電流.

5.高頻探針(Coaxial Probes)

用于測(cè)試高頻信號(hào)，有帶屏蔽圈的可測(cè)試10GHz以內(nèi)的和500MHz不帶屏蔽圈的.

6.旋轉(zhuǎn)探針(Rotator Probes)

彈力一般不高，因?yàn)槠浯┩感员緛砭秃軓?qiáng)，一般用于OSP處理過的PCBA測(cè)試.

7.高電流探針(High Current Probes)

探針直徑在2.54mm-4.75mm之間.最大的測(cè)試電流可達(dá)39amps.

8.半導(dǎo)體探針 (Semiconductor Probes)

直徑一般在0.50mm-1.27mm之間.帶寬大于10GHz,50Ω characteristic

9.電池接觸探針 (Battery and Connector Contacts)

一般用于優(yōu)化接觸效果，穩(wěn)定性好和壽命長(zhǎng).

10.測(cè)試

專業(yè)用于汽車線束通斷檢測(cè)，直徑在1.0--3.5mm之間，電流在3----50A

除以上類型外還有溫度探針，Kelvin探針等，比較少用.