| 芯片ESD/EOS測(cè)試 |
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價(jià)格： 元(人民幣) | 產(chǎn)地：本地 |
| 最少起訂量：1個(gè) | 發(fā)貨地：本地至全國(guó) | |
| 上架時(shí)間：2021-06-10 09:04:41 | 瀏覽量：294 | |
廣州廣電計(jì)量檢測(cè)股份有限公司（總部）
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| 經(jīng)營(yíng)模式：商業(yè)服務(wù) | 公司類(lèi)型：國(guó)有企業(yè) | |
| 所屬行業(yè)：檢測(cè)服務(wù) | 主要客戶(hù)：車(chē)廠(chǎng)、生產(chǎn)商 | |
 在線(xiàn)咨詢(xún)  |
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| 聯(lián)系人:張海鵬 (先生) | 手機(jī):18620908348 |
電話(huà): |
傳真: |
| 郵箱:3050677168@qq.com | 地址:廣東省廣州市天河區(qū)黃埔大道西平云路163號(hào) |
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EOS/ESD造成的客退情形不曾間斷，IC過(guò)電壓承受能力較低，產(chǎn)品就有損壞風(fēng)險(xiǎn)。 對(duì)成品廠(chǎng)商而言，除了要求IC供貨商測(cè)試到所要求的ESD防護(hù)等級(jí)，對(duì)于所選用的IC，其承受EOS的能力也更加關(guān)注。 GRGT技術(shù)服務(wù) 廣電計(jì)量（GRGT）能協(xié)助您進(jìn)行測(cè)試，提供Test to Fail的驗(yàn)證與失效模式報(bào)告。藉此了解芯片組件脆弱點(diǎn)與靜電承受度，作為您后續(xù)系統(tǒng)設(shè)計(jì)、芯片電路設(shè)計(jì)調(diào)整、甚至后續(xù)RMA失效分析的依據(jù)。 1.人體放電模式(Human Body Mode)測(cè)試； 2.機(jī)器放電模式(Machine Mode)測(cè)試； 3.組件充/放電模式(Charged Device Mode)測(cè)試； 4.制具式組件充/放電模式(Socket-Charge Device Mode)測(cè)試； 5.閂鎖效應(yīng)(Latch-up)測(cè)試； 6.靜電放電閂鎖測(cè)式(Transient-Induced Latch up)； 7.系統(tǒng)級(jí)靜電放電模式(System ESD Test–ESD GUN TEST)； 8.測(cè)試ESD I-V Curve量測(cè)； 9.過(guò)度電性應(yīng)力EOS(Electrical Overstress)測(cè)試； GRGT服務(wù)優(yōu)勢(shì) l豐富的ESD測(cè)試經(jīng)驗(yàn)：提供有效的測(cè)試方案，讓您能輕易找出產(chǎn)品問(wèn)題點(diǎn). l快速交期：三班制24小時(shí)運(yùn)作. l測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確度：靜電測(cè)試設(shè)備搭配自主建立之設(shè)備維修保養(yǎng)機(jī)制定期定檢保障設(shè)備輸出，將可協(xié)助客戶(hù)取得高精準(zhǔn)度之測(cè)試結(jié)果，降低設(shè)備不正常輸出造成的測(cè)試結(jié)果差異。 公司簡(jiǎn)介： 廣州廣電計(jì)量檢測(cè)股份有限公司（GRGT）是原信息產(chǎn)業(yè)部電子602計(jì)量站，經(jīng)過(guò)50余年的發(fā)展，現(xiàn)已成為一家全國(guó)化、綜合性的國(guó)有第三方計(jì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)，專(zhuān)注于為客戶(hù)提供計(jì)量、檢測(cè)、認(rèn)證以及技術(shù)咨詢(xún)與培訓(xùn)等專(zhuān)業(yè)技術(shù)服務(wù)，在計(jì)量校準(zhǔn)、可靠性與環(huán)境試驗(yàn)、元器件篩選與失效分析檢測(cè)、車(chē)規(guī)元器件認(rèn)證測(cè)試、電磁兼容檢測(cè)等多個(gè)領(lǐng)域的技術(shù)能力及業(yè)務(wù)規(guī)模處于國(guó)內(nèi)領(lǐng)先水平。 GRGT目前具有以下芯片相關(guān)測(cè)試能力及技術(shù)服務(wù)能力： 芯片可靠性驗(yàn)證(RA)： 芯片級(jí)預(yù)處理(PC)&MSL試驗(yàn)、J-STD-020&JESD22-A113； 高溫存儲(chǔ)試驗(yàn)(HTSL),JESD22-A103； 溫度循環(huán)試驗(yàn)(TC),JESD22-A104； 溫濕度試驗(yàn)(TH/THB),JESD22-A101； 高加速應(yīng)力試驗(yàn)(HTSL/HAST),JESD22-A110； 高溫老化壽命試驗(yàn)(HTOL),JESD22-A108； 芯片靜電測(cè)試(ESD)： 人體放電模式測(cè)試(HBM),JS001； 元器件充放電模式測(cè)試(CDM),JS002； 閂鎖測(cè)試(LU),JESD78； TLP；Surge/EOS/EFT； 芯片IC失效分析(FA)： 光學(xué)檢查(VI/OM)； 掃描電鏡檢查(FIB/SEM) 微光分析定位(EMMI/InGaAs)； OBIRCH；Micro-probe; 聚焦離子束微觀(guān)分析(FIB)； 彈坑試驗(yàn)(cratering)；芯片開(kāi)封(decap)； 芯片去層(delayer)；晶格缺陷試驗(yàn)(化學(xué)法)； PN結(jié)染色/碼染色試驗(yàn)； 推拉力測(cè)試(WBP/WBS)；紅墨水試驗(yàn)： PCBA切片分析(X-section)； 芯片材料分析： 高分辨TEM(形貌、膜厚測(cè)量、電子衍射、STEM、HAADF)； SEM(形貌觀(guān)察、截面觀(guān)察、膜厚測(cè)量、EBSD)； Raman(Raman光譜)；AFM(微觀(guān)表面形貌分析、臺(tái)階測(cè)量)； 廣州廣電計(jì)量檢測(cè)股份有限公司（GRGT）始建于1964年，是原信息產(chǎn)業(yè)部電子602計(jì)量站，經(jīng)過(guò)50余年的發(fā)展，現(xiàn)已成為一家全國(guó)化、綜合性的國(guó)有第三方計(jì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)。廣電計(jì)量的資質(zhì)能力處于行業(yè)*水平，其中CNAS認(rèn)可3408項(xiàng)，CMA認(rèn)可1990項(xiàng)，CATL認(rèn)可覆蓋55個(gè)類(lèi)別；在支撐各區(qū)域產(chǎn)業(yè)高質(zhì)量發(fā)展過(guò)程中，廣電計(jì)量還獲眾多榮譽(yù)稱(chēng)號(hào)。 廣電計(jì)量打造了一支技術(shù)水平和服務(wù)意識(shí)俱佳的服務(wù)隊(duì)伍，現(xiàn)有員工4000多人，其中包括各領(lǐng)域?qū)ia和技術(shù)帶頭人50多人，博士后、博士30人，碩士380多人。 廣電計(jì)量建有技術(shù)研究院，在新能源汽車(chē)、軌道交通、無(wú)線(xiàn)通信等領(lǐng)域，先后主持編寫(xiě)30多項(xiàng)*和地方計(jì)量測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)及規(guī)程，承擔(dān)50多項(xiàng)國(guó)家、省部級(jí)等重點(diǎn)科研項(xiàng)目，累計(jì)獲得專(zhuān)利*247項(xiàng)，另獲得軟件著作權(quán)119項(xiàng)，積極推動(dòng)了行業(yè)新技術(shù)的創(chuàng)新和產(chǎn)業(yè)化應(yīng)用。 業(yè)務(wù)聯(lián)系：張經(jīng)理：186-2090+8348； 郵箱：zhanghp grgtest.com |
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