| 芯片失效分析：decap、delayer、WBPWBS、FIB汽車芯片分析報告 |
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價格： 元(人民幣) | 產地：本地 |
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| 上架時間：2021-06-10 09:02:31 | 瀏覽量：381 | |
廣州廣電計量檢測股份有限公司（總部）
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| 經營模式：商業服務 | 公司類型：國有企業 | |
| 所屬行業：檢測服務 | 主要客戶：車廠、生產商 | |
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芯片失效分析（FA測試） 芯片失效分析測試項目： 光學檢查(VI/OM)； 掃描電鏡檢查(FIB/SEM)； 微光分析定位(EMMI/InGaAs)； OBIRCH； 微探針測試(Micro-probe)； 聚焦離子束微觀分析(Dualbeam-FIB)； 彈坑試驗(cratering)； 芯片開封(decap)； 芯片去層(delayer)； 晶格缺陷試驗(化學法)； PN結染色/碼染色試驗； 推拉力測試(WBP/WBS)； 紅墨水試驗；PCBA切片分析(X-section)； GRGT目前具有以下芯片相關測試能力及技術服務能力： 芯片可靠性驗證(RA)： 芯片級預處理(PC)&MSL試驗、J-STD-020&JESD22-A113； 高溫存儲試驗(HTSL),JESD22-A103； 溫度循環試驗(TC),JESD22-A104； 溫濕度試驗(TH/THB),JESD22-A101； 高加速應力試驗(HTSL/HAST),JESD22-A110； 高溫老化壽命試驗(HTOL),JESD22-A108； 芯片靜電測試(ESD)： 人體放電模式測試(HBM),JS001； 元器件充放電模式測試(CDM),JS002； 閂鎖測試(LU),JESD78； TLP；Surge/EOS/EFT； 芯片材料分析： 高分辨TEM(形貌、膜厚測量、電子衍射、STEM、HAADF)； SEM(形貌觀察、截面觀察、膜厚測量、EBSD)； Raman(Raman光譜)；AFM(微觀表面形貌分析、臺階測量)； 廣州廣電計量檢測股份有限公司（GRGT）失效分析實驗室AEC-Q技術團隊，執行過大量的AEC-Q測試案例，積累了豐富的認證試驗經驗，可為您提供更專業、更可靠的AEC-Q認證試驗服務。 芯片測試地點：廣電計量-廣州總部試驗室、廣電計量-上海浦東試驗室。 芯片測試業務咨詢及技術交流： GRGT張工186-2090+8348； zhanghp grgtest.com |
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