| 車(chē)規(guī)AECQ100認(rèn)證解析、車(chē)載IC芯片AECQ100認(rèn)證測(cè)試 |
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價(jià)格：1 元(人民幣) | 產(chǎn)地：本地 |
| 最少起訂量：1個(gè) | 發(fā)貨地：本地至全國(guó) | |
| 上架時(shí)間：2021-06-03 14:39:40 | 瀏覽量：221 | |
廣州廣電計(jì)量檢測(cè)股份有限公司（總部）
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| 經(jīng)營(yíng)模式：商業(yè)服務(wù) | 公司類型：國(guó)有企業(yè) | |
| 所屬行業(yè)：檢測(cè)服務(wù) | 主要客戶：車(chē)廠、生產(chǎn)商 | |
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| 聯(lián)系人:張海鵬 (先生) | 手機(jī):18620908348 |
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| 郵箱:3050677168@qq.com | 地址:廣東省廣州市天河區(qū)黃埔大道西平云路163號(hào) |
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AEC-Q100認(rèn)證是什么 AEC-Q100對(duì)IC的可靠性測(cè)試可細(xì)分為加速環(huán)境應(yīng)力可靠性、加速壽命模擬可靠性、封裝可靠性、晶圓制程可靠性、電學(xué)參數(shù)驗(yàn)證、缺陷篩查、包裝完整性試驗(yàn)，且需要根據(jù)器件所能承受的溫度等級(jí)選擇測(cè)試條件。需要注意的是，第三方難以獨(dú)立完成AEC-Q100的驗(yàn)證，需要晶圓供應(yīng)商、封測(cè)廠配合完成，這更加考驗(yàn)對(duì)認(rèn)證試驗(yàn)的整體把控能力。廣電計(jì)量將根據(jù)客戶的要求，依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)客戶的IC進(jìn)行評(píng)估，出具合理的認(rèn)證方案，從而助力IC的可靠性認(rèn)證。 如果成功完成根據(jù)本文件各要點(diǎn)需要的測(cè)試結(jié)果，那么將允許供應(yīng)商聲稱他們的零件通過(guò)了AEC Q100認(rèn)證。供應(yīng)商可以與客戶協(xié)商，可以在樣品尺寸和條件的認(rèn)證上比文件要求的要放寬些，但是只有完成要求實(shí)現(xiàn)的時(shí)候才能認(rèn)為零件通過(guò)了AEC Q100認(rèn)證。 芯片可靠性驗(yàn)證(RA)： 芯片級(jí)預(yù)處理(PC)&MSL試驗(yàn)、J-STD-020&JESD22-A113； 高溫存儲(chǔ)試驗(yàn)(HTSL),JESD22-A103； 溫度循環(huán)試驗(yàn)(TC),JESD22-A104； 溫濕度試驗(yàn)(TH/THB),JESD22-A101； 高加速應(yīng)力試驗(yàn)(HTST/HAST),JESD22-A110； 高溫老化壽命試驗(yàn)(HTOL),JESD22-A108； 芯片靜電測(cè)試(ESD)： 人體放電模式測(cè)試(HBM),JS001； 元器件充放電模式測(cè)試(CDM),JS002； 閂鎖測(cè)試(LU),JESD78； 芯片IC失效分析(FA)： 光學(xué)檢查(VI/OM)； 掃描電鏡檢查(FIB/SEM) 微光分析定位(EMMI/InGaAs)； OBIRCH； Micro-probe; 聚焦離子束微觀分析(FIB) 彈坑試驗(yàn)(cratering) 芯片開(kāi)封(decap) 芯片去層(delayer) 晶格缺陷試驗(yàn)(化學(xué)法) PN結(jié)染色/碼染色試驗(yàn) 推拉力測(cè)試(WBP/WBS) 紅墨水試驗(yàn) PCBA切片分析(X-section) 芯片材料分析： 高分辨TEM(形貌、膜厚測(cè)量、電子衍射、STEM、HAADF)； SEM(形貌觀察、截面觀察、膜厚測(cè)量、EBSD) Raman(Raman光譜) AFM(微觀表面形貌分析、臺(tái)階測(cè)量) AEC-Q100試驗(yàn)后芯片失效分析項(xiàng)目： 形貌分析技術(shù)：體視顯微鏡、金相顯微鏡、X射線透視、聲學(xué)掃描顯微鏡、掃描電鏡、透射電鏡、聚焦離子束。 成分檢測(cè)技術(shù)：X射線能譜EDX、俄歇能譜AES、二次離子質(zhì)譜SIMS、光譜、色譜、質(zhì)譜 電分析技術(shù)：I-V曲線、半導(dǎo)體參數(shù)、LCR參數(shù)、集成電路參數(shù)、頻譜分析、ESD參數(shù)、電子探針、機(jī)械探針、絕緣耐壓、繼電器特性。 開(kāi)封制樣技術(shù)：化學(xué)開(kāi)封、機(jī)械開(kāi)封、等離子刻蝕、反應(yīng)離子刻蝕、化學(xué)腐蝕、切片。 缺陷定位技術(shù)：液晶熱點(diǎn)、紅外熱像、電壓襯度、光發(fā)射顯微像、OBIRCH。 AECQ100認(rèn)證測(cè)試周期： 3-4個(gè)月，提供全m的認(rèn)證計(jì)劃、測(cè)試、報(bào)告等服務(wù)。 測(cè)試地點(diǎn)： 廣電計(jì)量廣州總部、廣電計(jì)量上海試驗(yàn)室。 廣州廣電計(jì)量檢測(cè)股份有限公司（GRGT）失效分析實(shí)驗(yàn)室AEC-Q技術(shù)團(tuán)隊(duì)，執(zhí)行過(guò)大量的AEC-Q測(cè)試案例，積累了豐富的認(rèn)證試驗(yàn)經(jīng)驗(yàn)，可為您提供更專業(yè)、更可靠的AEC-Q認(rèn)證試驗(yàn)服務(wù)。 AECQ100技術(shù)交流及業(yè)務(wù)咨詢：GRGT張工 186-2090+8348 zhanghp grgtest.com |
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