| AG防眩層膜厚儀 |
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價格： 元(人民幣) | 產地：本地 |
| 最少起訂量：1 | 發貨地：本地至全國 | |
| 上架時間：2022-07-31 01:34:17 | 瀏覽量：5 | |
蘇州瑞格譜光電科技有限公司
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產品簡介
AG防眩層膜厚儀: 按照客戶需求搭建的防眩薄膜厚度特性表征工具。 詳細介紹1. 產品概述 AG防眩層膜厚儀: 按照客戶需求搭建的防眩薄膜厚度特性表征工具。 AG防眩層膜厚儀 是一個模塊化和可擴展平臺的光學測量設備，可用于表征厚度范圍為1nm-1mm 的防眩膜層。 AG防眩層膜厚儀 是為客戶量身定制的，并廣泛應用于各種不同的應用。 比如： 吸收率/透射率/反射率測量，薄膜特性在溫度和環境控制下甚至在液體環境下的表征等等… 2. AG防眩層膜厚儀應用 大學&研究實驗室、半導體行業、高分子聚合物&阻抗表征、電介質特性表征、 生物醫學、硬涂層，陽極氧化，金屬零件加工、、光學鍍膜、非金屬薄膜等等… AG防眩層膜厚儀可由用戶按需選擇裝配模塊，核心部件包括光源，光譜儀（適用于 200nm-2500nm 內的任何光譜系統）和控制單元，電子通訊模塊。 通過不同模塊組合，蕞終的配置可以滿足任何終端用戶的需求。 3. 膜厚儀規格（Specificatins ）
4. 膜厚儀配件
5. 膜厚儀工作原理 白光反射光譜(WLRS)是測量垂直于樣品表面的某一波段的入射光，在經多層或單層薄膜反射后，經界面干涉產生的反射光譜可確定單層或多層薄膜（透明，半透明或全反射襯底）的厚度及 N*K 光學常數。 * 規格如有更改，恕不另行通知; ** 厚度測量范圍即代裱光譜范圍，是基于在高反射襯底折射率為 1.5 的單層膜測量厚度。 |
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