光澤度計說明

該產品是一種全新的雙光束自動掃描紫外可見分光光度計。采用了全新的光學系統設計、微機控制和處理數據、大屏幕LCD中文窗顯示操作菜單、光譜圖和分析測試數據。具有光度測量、自動掃描測量光譜、定量分析、動力學分光光度分析等多項功能。分析靈敏度和精確度高；光譜數據處理功能強；采用中文人機對話、操作方便；儀器外形美觀大方。廣泛用于檢驗、衛生、生物學、環境監測、商品檢驗、石油工、黑色和有色冶金等領域，是質量控制、技術和科學研究所必須的基本設備。雙光束紫外可見分光光度計UV762功能特點：

• 關鍵元件采用進口元件，全新獨特的光學系統設計，使儀器的主機具有優良的光學性能和測光性能，雜散光低，測光精確度和穩定可靠性高。
• 真正的雙光束測光系統，配合先進的電路測控系統，使儀器具有較高的可靠性和極低的噪聲。
• 獨特的氘燈和鎢燈裝，光源自動切換及自動尋找最佳位置的設計和工作方式，使用戶操作儀器和替換光源更為方便、正確和全．
• 采用大屏幕中文窗口(LED)液晶屏顯示，具有良好的人機對話界面．
• 優良的軟件設計和編制，使儀器有較強光譜數據處理功能：自動掃描測量光譜,多波長( 1-3λ)測定、動力學測定、１－３次曲線擬合、１－４階導數光譜、存取顯示打印光譜圖和分析數據。
• 基于Windows平臺開發的強大軟件，界面友好，功能強大，方便您的存儲輸出，方便辦公，節省費用。

雙光束紫外可見分光光度計UV762性能指標：

• 波長范圍：190nm～1100nm
• 光譜帶寬：2nm
• 波長準確度：≤±0.3nm(開機自動校正)
• 波長重復性：≤0.2nm
• 透射比準確度：±0.3%(T)
• 透射比重復性：0.2%(T)
• 透射比測量范圍：0～200%T
• 吸光度測量范圍：-0.301～3.000A
• 雜光：≤0.15%(在220nm處，以NAI測定)
• 漂移：≤0.002A/H （500nm處）
• 噪聲：100%線噪聲≤0.15%T；0%線噪聲≤0.1%T
• 掃描速度：快中慢

光澤度計闡述

1.主要性能特點

*根據設置波長自動保存最新波長*與普通同類產品相比增加了測量的穩定性*可測量光程為100毫米*全面的控制鎢燈光功能*根據標準模式或輸入標準建立定量分析方式*能夠保存50組數據記錄以及多達10條校準曲線*選購與電腦連接的軟件裝置*依照標準實驗室檢測標準測定的結果顯示,存儲和打印檢測結果*建立不同方式曲線,曲線自動計算濃度樣本*可以同時為多種波長提供定量分析(多達三波長)*根據測量需要動力分析（需要軟件支持）

2.技術參數

2.1測光方式：Czerny-Turner單光束光柵 1200 L/mm

2.2波長范圍: 325～1100nm

＊2.3波長準確性: ±0.5nm

2.4波長重復性: 0.3nm

2.5光譜帶寬: 4.0nm

2.6透射比范圍: 0～200％T

2.7吸光度范圍: -0.3～3 Abs

＊2.8光度準確性: ±0.3％T(NIST930濾色片)

＊2.9光度重復性: 0.2％T (NIST930濾色片)

2.10濃度顯示范圍: 0.000～9999

＊2.11雜散光: 0.05%T(220nm NaI,340nm NaNO₂)

2.12漂移: ±0.002Abs/h(500nm,預熱2h)

＊2.13噪聲:≤0.001Abs

2.14基線平直度: ±0.003(200-1000nm)

2.15光源: 進口鹵鎢燈（壽命2000小時）

2.16光源選擇方式: 自動轉換

2.17色散元件: 光柵,1200L/mm

2.18檢測器: 硅光二極管

2.19顯示方式: 128*64 LCD或PC

2.20外形尺寸（L×B×H）: 430×360×180（mm）

2.21重量: 14kg

2.22使用環境溫度: 5℃～35℃

2.23使用環境相對濕度:≤85%

2.24電源:AC 220V/50Hz

光澤度計規格

紫外可見分光光度計(UV-5800)

產品介紹 

※ 雙光束比例監測光學系統

※ 采用同步正弦機構，波長準確度高，重復性好

※ 24位高速、高精度A/D轉換，儀器具有極高的靈敏度和反應速度

※ 能直接建立標準曲線，并可用標準曲線進行相關的測試，可連續測試和存儲200組數據，并可存儲200條標準曲線，用戶可根據編號方便調用，測試數據可斷電保持

※ 波長自動校準、自動設定、偏差自我修復

※ 插座式鎢燈、氘燈設計，換燈免光學調試

※ 采用懸架式光學系統設計，整體光路固定在8mm厚的切削鋁制無變形基座上，底板的變形和外界的震動對光學系統不產生任何影響，從而大大提高了儀器的穩定性和可靠性

※ UV-5800PC型標配元析公司的掃描軟件可直接完成光度測量、定量測試、定性測試、動力學測試、多波長測試、DNA/蛋白質測試及數據圖譜的處理

技術參數;