| XPS測試X射線光電子能譜測試?XPS檢測XPS測試方法 |
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深圳市賽特檢測有限公司
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XPS測試/X射線光電子能譜測試項目如下： 測試原理 X射線光電子能譜（XPS），基于光電離作用，當一束光子輻射到樣品表面時，光子可以被樣品中某一元素的原子軌道上的電子所吸收，使該原子解脫原子核的束縛，以一定的動能從原子內(nèi)部發(fā)射出來，變成自由的光電子，而原子本身則變成一個激發(fā)態(tài)的離子。當固定激發(fā)源能量時，其光電子的能量僅與元素的種類和所電離激發(fā)的原子軌道有關(guān)，由此根據(jù)光電子的結(jié)合能定性分析物質(zhì)的元素種類。經(jīng)X射線輻照后，從樣品表面射出的光電子的強度與樣品中該原子的濃度呈線性關(guān)系，可以進一步進行元素的半定量分析。另外，XPS的重要應(yīng)用是對元素的化學價態(tài)進行分析。 測試方法 材料表面不同深度組成元素的定性、半定量及價態(tài)分析 最小分析深度:表面2nm，檢出限：0.01-1at% 樣品要求 非水份或不含水份及揮發(fā)性物質(zhì)的固體樣品，粉末樣品以工程師確認結(jié)果而定。 樣品尺寸：Max. 4*4*4.5cm
應(yīng)用范圍 在化學、材料科學及表面科學中具有廣泛的應(yīng)用價值。 1、 表面元素定性分析 2、 表面元素的半定量分析 3、 表面元素的化學價態(tài)分析 4、 元素沿深度方向的分布分析
常見適用標準 ISO 16531-2013 表面化學分析.深度剖析.原子發(fā)射光譜(AES)和光電子能譜(XPS)中深度剖析用電流或電流密度的離子束校正和相關(guān)測量方法 STT檢測嚴格按照CNAS認可委的要求建設(shè)實驗室，并依據(jù)ISO/IEC17025：2006進行實驗室管理，遵循“公正、科學、準確、高效”的準則，依照IEC、ISO、IEEE、MIL、ASTM、J-STD、GJB、GB、SJ等國際、國內(nèi)標準，為企業(yè)提供專業(yè)檢測技術(shù)服務(wù)。 深圳市賽特檢測有限公司歡迎廣大客戶來電咨詢業(yè)務(wù)！
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