| 電子元器件檢測(cè) 電子元件失效分析 芯片粘結(jié)強(qiáng)度測(cè)試 CT檢測(cè) |
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價(jià)格： 元(人民幣) | 產(chǎn)地：不限 |
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| 上架時(shí)間：2018-04-17 10:30:51 | 瀏覽量：152 | |
深圳市賽特檢測(cè)有限公司
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| 經(jīng)營(yíng)模式：商業(yè)服務(wù) | 公司類型：其他有限責(zé)任公司 | |
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公司名稱：深圳市賽特檢測(cè)有限公司（STT）
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電子元器件檢測(cè)及失效分析 測(cè)試項(xiàng)目 開封 取晶粒 掃描電鏡檢查 X射線透視檢查 CT檢測(cè)（3D X射線透視檢查） 超聲波掃描檢查（C-SAM）
微光顯微鏡（EMMI） 探針應(yīng)用 芯片粘結(jié)強(qiáng)度 I-V曲線量測(cè) 引線鍵合服務(wù) 引線鍵合強(qiáng)度 LCR應(yīng)用 參考標(biāo)準(zhǔn)
MIL-STD 883G-2006 JISZ 3197 根據(jù)客戶產(chǎn)品規(guī)格書 我們STT檢測(cè)擁有一支高學(xué)歷高素質(zhì)專家團(tuán)隊(duì)，具備豐富的環(huán)境可靠性試驗(yàn)工程技術(shù)、失效分析技術(shù)、理化檢測(cè)技術(shù)研究及實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，嚴(yán)格按照CNAS認(rèn)可委的要求建設(shè)實(shí)驗(yàn)室，并依據(jù)ISO/IEC17025：2006進(jìn)行實(shí)驗(yàn)室管理，遵循“公正、科學(xué)、準(zhǔn)確、高效”的準(zhǔn)則，依照IEC、ISO、IEEE、MIL、ASTM、J-STD、GJB、GB、SJ等國(guó)際、國(guó)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)，為企業(yè)提供專業(yè)檢測(cè)技術(shù)服務(wù)。 深圳市賽特檢測(cè)有限公司歡迎廣大客戶來(lái)電咨詢業(yè)務(wù)！ |
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