| 低溫存儲壽命試驗高低溫試驗低溫存放試驗低溫檢測報告 |
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| 上架時間：2018-04-11 09:37:34 | 瀏覽量：138 | |
深圳市賽特檢測有限公司
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| 所屬行業：檢測服務 | 主要客戶：各行各業 | |
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低溫存儲壽命試驗
實驗目的 為了考核低溫對試樣的影響，確定試樣在低溫條件下存儲的適應性。
實驗設備 該實驗一般用到高低溫試驗箱。 實驗原理 低溫條件下電子元器件的電參數會發生變化、材料變脆及其材料冷縮產生應力等。使電子元器件 處于低溫環境下一定時間,考核電子元器件的電參數是否發生變化、材料是否變脆、材料冷縮 產生應力有多大等，從而確定電子元器件抗低溫的能力。 實驗參考標準 JESD22-A119、IEC60068-2-1、GJB1864A-2011
我們STT賽特檢測提供的服務有 - 卡板檢測，棧板檢測，托盤檢測，可靠性檢測，包裝材料檢測，切片觀察，紙箱檢測，擁有CNAS，CMA，出具國家認可的檢測報告，華南最佳第三方檢測機構，深圳權威檢測機構。
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