| QFN58-0.35芯片測試座支持NB-IoTSOC測試老化失效分析半導體測試 |
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價格:356.00 元(人民幣) | 產地:廣東深圳 |
| 最少起訂量:1 | 發貨地:廣東深圳 | |
| 上架時間:2025-02-11 00:58:33 | 瀏覽量:103 | |
深圳市鴻怡電子有限公司
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| 經營模式:生產加工 | 公司類型:私營有限責任公司 | |
| 所屬行業:治具 | 主要客戶: | |
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QFN58-0.35-6*6-0091TGH芯片測試座 ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]()
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