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　　EMI測(cè)試主要包含什么內(nèi)容?

　　Radiated Emission -輻射擾測(cè)試

　　Conducted Emission-傳導(dǎo)擾測(cè)試

　　Harmonic-諧波電流擾測(cè)試

　　Flicker-電壓變化與閃爍測(cè)試

　　為什么說絕大部分用電設(shè)備的損壞都與浪涌有關(guān)？

　　浪涌包括浪涌電壓和浪涌電流，即電壓或電流瞬間出現(xiàn)超出穩(wěn)定值的峰值。產(chǎn)生浪涌的主要原因有兩個(gè)：電力系統(tǒng)的開關(guān)瞬間和雷電產(chǎn)生瞬間。

　　對(duì)于處在雷電頻繁地區(qū)的項(xiàng)目，雷雨天氣是難熬的時(shí)候，即使不直接擊中，雷電通常能夠產(chǎn)生強(qiáng)大的電壓和脈沖電流，給設(shè)備帶來致命的沖擊，甚至造成性的破壞。

　　浪涌試驗(yàn)的目的便是測(cè)試電氣和電子設(shè)備在遭受浪涌時(shí)的性能狀況，不同的設(shè)備和測(cè)試部位，測(cè)試方式與角度不盡相同，

　　EMC 測(cè)試要求根據(jù)產(chǎn)品用途分為 3 大類：即類、工商環(huán)境使用類、民用及居住區(qū)環(huán)境使用類。后兩者的測(cè)試項(xiàng)目、要求、方法等均較一致，差異在于對(duì)指標(biāo)要求上。類，因其使用性與后 2 類有較大差異。此外，航空、船舶設(shè)備也因其使用性，除了同設(shè)備一樣有較高要求外，還有國(guó)際通用的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范。

　　所謂 EMC，在 GB/T4365－1996《電磁兼容術(shù)語(yǔ)》中的定義是：設(shè)備或系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中能正常工作且不對(duì)該環(huán)境中任何事物構(gòu)成不能承受的電磁擾的能力。該定義概括了 3 個(gè)方面的內(nèi)容。

　　其一，電磁擾的可限制性。電磁擾是普遍存在的，但可以用質(zhì)量規(guī)范約束，以技術(shù)手段限制它的危害性。這就是說應(yīng)當(dāng)對(duì)產(chǎn)品規(guī)定其向外發(fā)送電磁擾強(qiáng)度的限制值，以保證電磁環(huán)境合格。

　　其二，電磁擾的豁免性。這就是說產(chǎn)品在規(guī)定電磁擾強(qiáng)度的電磁環(huán)境下應(yīng)能正常工作而不應(yīng)降低其性能指標(biāo)。

　　其三，電磁環(huán)境的規(guī)范性和兼容性。即對(duì)電磁擾采取任何措施都不能使自身或使處于同一電磁環(huán)境的其它產(chǎn)品或系統(tǒng)性能下降，只能友好地“和平”共處。