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　　JIMA RT RC-05 X射線分辨率測試卡簡介：

　　測試卡封裝在一個防護盒中

　　盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×3mm

　　芯片尺寸（W×D×T）：8×8×0.2mm

　　圖案布局：T型 （3-10μm）

　　I 型 （15-50μm）

　　線/空間尺寸：

　　16種規格圖案,

　　3μm,4μm,5μm,6μm,7μm,9μm,10μm （T型）

　　15μm,20μm,25μm,30μm,35μm,40μm,45μm,50μm (I 型)

　　JIMA（日本檢測儀器制造商協會），致力于關注各種檢測儀器，其中包括無損檢測儀器，JIMA分辨率測試卡，用于測量X射線系統的分辨率，以保證X射線系統在微米和納米焦點的圖像質量。