| QFN40-0.4-5*5芯片測試座HASTHTOLHTLLCP老化各等級測試加速實驗 |
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價格：140.00 元(人民幣) | 產地：廣東深圳 |
| 最少起訂量：1 | 發貨地：廣東深圳 | |
| 上架時間：2024-02-05 19:06:28 | 瀏覽量：210 | |
深圳市鴻怡電子有限公司
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