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是宏観観察用的照明設備，可検測各種缺陥如半導體晶片及液晶基板加工中最費人工的成形製品表面
的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。

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概要

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　　1.　可照明様品表面範囲於400.000Lx以上。

　　2.　因使用鹵素光源燈的光源，具有色溫度高、光照不均的減少及非常穏定鋭利照明的特性。


　　3.　冷反射鏡受熱影響是鋁鏡的1/3


　　4.　二段切換構造，可用按扭切換高照明観察及低照明観察。

　　　　YP-150I?9?9?9?9?9?9照度範囲　φ30
　　　　YP-250I?9?9?9?9?9?9照度範囲　φ60
　　　　（YP-250I的通風機可選択螺旋式風扇或管道通風機形）

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日本sena lamp高照度鹵素強光燈185FI手機屏幕檢查燈

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高照度照明設備（表面檢查燈）185LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。

適合于TFT面板、CF（彩色濾光片），觸摸屏制造等行業。

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標準構成如下。

照度：照射距離　310mm、照射直徑徑　55mmφ時照度在　400，000　Lux以上）

光源：直流點燈　17V/185W　鹵素燈

照度調整：連續可調至照度的　20

冷卻方式：強制空冷

使用溫度范囲：0～40℃

電源電圧：AC　95V～AC　260V，50/60Hz

功率：250W

尺寸：光源　136mm　H×112mm　W×150mm　D

電源　229mm　H×90mm　W×250mm　D

重量：光源2.3kg

電源3.6kg

立桿5.0kg

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品牌故事

セナー株式會社在1984年開發出超高照度照明裝置，（表面檢查燈），在半導體、面板行業廣泛應用。

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