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　一、簡述
應(yīng)變測試儀是針對印刷電路板應(yīng)力應(yīng)變測試應(yīng)用所進行設(shè)計的儀器，測試項目包括：錫球破裂、布線損毀、焊盤分離和基板分離等。提供實時數(shù)據(jù)監(jiān)控，避免測試過程中出現(xiàn)故障。
　　二、應(yīng)用
　　TSK-32-16C應(yīng)變測試儀廣泛應(yīng)用于電子產(chǎn)品等領(lǐng)域的測試，通過應(yīng)變、應(yīng)變速率上的客觀分析，為蘋果、華為、格力、美的等客戶的電路板工藝優(yōu)化提供了重要依據(jù)。
　　三、特點
　　1.設(shè)備輕巧、便攜
　　2.可直接和應(yīng)變片相連
　　3.允許120Ω或350Ω的1/4橋接入
　　4.每通道采樣速率z高可達10kHz
　　5.每通道同時使用抗混疊濾波器和模擬轉(zhuǎn)數(shù)字進行采樣
　　6.提供高速型USB接口
　　7.主機支持多款模塊
　　8.符合IPC/JEDEC-9704標(biāo)準的要求

四、參數(shù)
　　1.測量類別：應(yīng)變
　　2.測量對象：120Ω應(yīng)變片
　　3.測量范圍：±55000με
　　4.通道數(shù)：8通道、16通、24通道、32通道、40通道、48通道、64通道
　　5.每通道Z高采樣率：10kHz
　　6.AD分辨率：24bit
　　7.精度：±0.3
　　8．重量：0.8-3.5kg
　　9.環(huán)境溫度：-40℃-70℃
　　10.環(huán)境濕度：10-90
　　11.接口：USB2.0
　　12.輸入電壓：100VAV-240VAC
　　五、軟件介紹
　　1.具備一鍵輸出報告功能，報告符合IPC/JEDEC-9704標(biāo)準
　　2.支持多種語言，如英文、中文
3.提供diagonal strain、Max/Min principal strain、strain rate、Qstrain等數(shù)據(jù)分析