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美國奧林巴斯Olympus 38DL PLUS超聲波測厚儀技術規格：



測量

雙晶探頭測量模式

從激勵脈沖后延時到個回波之間的時間間隔。

穿透涂層測量模式

利用單個底面回波（使用D7906-SM和D7908探頭），測量金屬的實際厚度和涂層厚度。

穿透漆層回波到回波測量模式

在兩個連續底面回波之間的時間間隔，不計漆層或涂層的厚度。

單晶探頭測量模式

模式1：激勵脈沖與個底面回波之間的時間間隔。
模式2：延遲線回波與個底面回波之間的時間間隔（使用延遲線式或水浸式探頭）。
模式3：在激勵脈沖之后，位于個表面回波后的相鄰底面回波之間的時間間隔（使用延遲線式或水浸式探頭）。
氧化層模式：可選。
多層模式：可選。

厚度范圍

0.080毫米～635.00毫米，視材料、探頭表面條件、溫度和所選配置而定。

材料聲速范圍

0.508 mm/μs～13.998 mm/μs

分辨率（可選擇）

低分辨率：0.1毫米
標準分辨率：0.01毫米
高分辨率（可選項）：0.001毫米

探頭頻率范圍

標準：2.0 MHz～30 MHz（-3 dB）
高穿透（可選項）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB）