| DFN8WSON8老化測試座MOSFET及LFPAK芯片通用測試高溫失效分析 |
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價格：68.00 元(人民幣) | 產地：廣東深圳 |
| 最少起訂量：1 | 發貨地：廣東深圳 | |
| 上架時間：2023-09-12 21:45:36 | 瀏覽量：39 | |
深圳市鴻怡電子有限公司
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| 經營模式：生產加工 | 公司類型：私營獨資企業 | |
| 所屬行業：連接器 | 主要客戶：芯片設計公司，封測廠 | |
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DFN5*6-8L-1.27翻蓋光座(060-5060-080N)-LH測試座 .jpg)    
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