雙城平面光帶檢測儀 澄明度檢測儀的使用方
發布者：xr1211 發布時間：2018-05-15 00:15:09
用途：機械密封件、光學零件、高級平臺、平板、導軌等高精度平面零件的平面檢測。平面平晶規格φ60*20mm φ80*20mm φ100*25mmφ150mm以上屬非標立品需訂做平面平晶產品特點*平面平晶是以光波干涉原理為基礎，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現的干涉條紋來測量被測量面的平面度。*平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度。亦可用于檢定高精度的平面零件，例如，平面光學零件、高級平臺、平板、導軌、密封件等。平面平晶特別適用于計量單位、實驗室作為標準平面和樣板。
用途：機械密封件、光學零件、高級平臺、平板、導軌等高精度平面零件的平面檢測。功率：20W 電源：220V/50Hz 專用燈源照射平面平晶規格φ60*20mm φ80*20mm φ100*25mmφ150mm以上屬非標立品需訂做平面平晶產品特點*平面平晶是以光波干涉原理為基礎，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現的干涉條紋來測量被測量面的平面度。*平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度。亦可用于檢定高精度的平面零件，例如，平面光學零件、高級平臺、平板、導軌、密封件等。平面平晶特別適用于計量單位、實驗室作為標準平面和樣板。技術參數:
用途：機械密封件、光學零件、高級平臺、平板、導軌等高精度平面零件的平面檢測。平面平晶規格φ60*20mm φ80*20mm φ100*25mmφ150mm以上屬非標立品需訂做平面平晶產品特點*平面平晶是以光波干涉原理為基礎，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現的干涉條紋來測量被測量面的平面度。*平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度。亦可用于檢定高精度的平面零件，例如，平面光學零件、高級平臺、平板、導軌、密封件等。平面平晶特別適用于計量單位、實驗室作為標準平面和樣板。
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