陸液晶板檢測顯微鏡 正置液晶板檢測顯微
發布者：runlian01 發布時間：2018-05-11 14:52:03
產品特點 A1130737液晶板檢測顯微鏡在觀察物體時能產生正立的三維空間影像。立體感強，成像清晰和寬闊，又具有長工作距離，并是適用范圍非常廣泛的常規顯微鏡。落射式檢測顯微鏡操作方便、直觀、檢定效率高,適用于電子工業生產線的檢驗、印刷線路板的檢定、印刷電路組件中出現的焊接缺陷（印刷錯位、塌邊等）的檢定、單板PC的檢定、真空熒光顯示屏VFD 的檢定等等，顯微鏡將實物的圖像放大后顯示在計算機的屏幕上，可以將圖片保存，放大，打印。配測量軟件可以測量各種數據。 A1130737電腦型液晶板檢測顯微鏡系統是將傳統的光學顯微鏡與計算機通過光電轉換有機的結合在一起，不僅可以在目鏡上作顯微觀察，還能在計算機顯示屏幕上觀察實時動態圖像，并能將所需要的圖片進行編輯、保存和打印。 儀器特點： 獨特光學設計，結構新穎，表現最佳解像度及真實彩色影像，視場寬，工作距離長，真正垂直光路。 大變倍范圍，適合不同樣本大小，均勻照明整個視野，使用無光影同軸照明燈。 電腦圖像攝取和分析系統等細致顯現。 技術指標 物鏡變倍范圍 0.7X-4.5X 顯微鏡為連續變倍，變倍比為 6：1 移動工作距離：200mm 總放大倍數：7—450X（以21寸電視機，2X倍的大物鏡為例） 可以直接電視機或電腦上觀察實物圖像。 測量特性 成像系統配套件： 電腦型落射檢測顯微鏡（A1130737）：1、顯微鏡 2、適配鏡 3、攝像器(CCD) 4、圖像采集 5.計算機 系統參考放大倍數： 電腦型落射檢測顯微鏡（A1130737）：7X-320X（以17寸顯示器，2X倍的大物鏡為例） 儀器選配件：1.其它附件 2.二維測量軟件
產品特點 A1130731系列正置透反射高倍半導體檢測顯微鏡適用于對透明與不透明，或者半透明的物體進行顯微觀察。儀器配置落射照明與透射照明系統 、長距平場消色差物鏡、大視野目鏡，圖像清晰、襯度好，同時還配有內置偏光觀察裝置。本儀器可用于鑒別和分析各種金屬和合金材料及非金屬物質的組織結構，廣泛應用于電子，冶金、工和儀器儀表行業觀察不透明的物質。如金屬太陽能板、多晶硅片、封裝測試、集成電路、電子芯片、電路板、液晶板、鍍涂層，薄膜、粉末及其它非金屬材料，對一些表面狀況進行研究分析的工作等。本儀器系大專院校，科研機構，工廠等的理想儀器。 成像系統組成介紹： A1130731/A1130732電腦型/數碼型高倍半導體檢測顯微鏡可通過光電轉換與計算機，數碼相機以及電視機等設備結合在一起，不僅可以在目鏡上觀察，還能在顯示屏幕上觀察實時動態圖像，還可在計算機，數碼相機上將所需要的圖片進行編輯、保存和打印。 性能特點： 配置大視野目鏡和長距平場消色差物鏡，視場大而清晰。 粗微動同軸調焦機構，粗動松緊可調，帶限位鎖緊裝置，微動格值:2μm。 配置落射與透射兩套照明系統，能分別對不透明物體或透明物體進行顯微觀察 三目鏡筒,可自由切換正常觀察，可進行100%透光攝影 防霉：特有的防霉系統 技術指標 平場目鏡放大倍數(X)視場(mm)10XΦ1820XΦ11分劃10X(格值0.1mm)Φ17 平場消色差物鏡放大倍數（X）數值孔徑（NA）工作距離（mm）5X0.1218.310X0.258.920X0.454.540X0.603.760X0.850.26100X(油)1.250.44光學放大倍數50X 100X 200X 400X 600X 800X 1000X 1200X 2000X系統參考放大倍數50X-3000X目鏡筒三目鏡,傾斜30? 瞳距調節范圍：53-75mm照明系統落射照明器，6V/20W鹵素燈，220V（50Hz）亮度可調.透射照明：6V/20W鹵素燈，亮度可調；220V（50Hz）偏光裝置三目頭內置檢偏振， 可插入式起偏振片,垂直照明裝置，調焦機構粗微動同軸調焦,粗動松緊可調,帶鎖緊和限位裝置 微動格值:0.002mm, 轉換器四孔(內向式滾珠內定位濾色片組黃色、藍色、綠色、磨砂玻璃 載物臺移動范圍X方向：75mm ； Y方向50mm
產品特點 A1130735系列高倍大平臺半導體檢測顯微鏡適用于大物體表面上的特定范圍內微小目標的觀察研究和分析。本儀器配置配置大移動范圍的機械式載物臺、落射照明器 、長距平場消色差物鏡、大視野目鏡，圖像清晰、襯度好，同時還配有內置偏光觀察裝置。本儀器可用于鑒別和分析各種金屬、合金材料、非金屬物質的組織結構，廣泛應用于電子、工和儀器儀表行業觀察不透明的物質。如金屬材料，太陽能板、多晶硅、單晶硅、封裝測試、集成電路、電子芯片、電路板、大液晶板及其它非金屬材料，對一些表面狀況進行研究分析的工作等。本儀器系大專院校，精密工程學，科研機構，工廠等的理想儀器。 性能特點： A1130735/A1130736電腦（數碼）系列高倍大工作臺半導體檢測顯微鏡系統是通過光電轉換與計算機，數碼相機以及電視機等設備結合在一起，不僅可以在目鏡上觀察，還能在顯示屏幕上觀察實時動態圖像，還可在計算機，數碼相機上將所需要的圖片進行編輯、保存和打印。 配置大視野目鏡和長距平場消色差物鏡，視場大而清晰。 配置大移動范圍的載物臺，能快速和慢速移動。 粗微動同軸調焦機構，粗動松緊可調，帶限位鎖緊裝置，微動格值:2μm。 6V 20W鹵素燈,亮度可調。 三目鏡筒,可自由切換正常觀察，可進行100%透光攝影 特有的防霉系統 技術指標 平場目鏡放大倍數(X)視場(mm)10XΦ1820XΦ10分劃10X（格值0.1mm）Φ18平場消色差物鏡放大倍數（X）數值孔徑（NA）工作距離（mm）5X0.1218.310X0.258.920X0.408.740X0.603.750X0.702.0280X0.800.96光學放大倍數50X 100X 200X 400X 500X 800X 1000X 1600X系統參考放大倍數50X-3000X目鏡筒三目鏡, 瞳距調節范圍：53-75mm照明系統落射照明器，6V/20W鹵素燈，220V（50Hz）亮度可調具偏光裝置三目頭內置檢偏振， 可插入式起偏振片,垂直照明裝置，調焦機構粗微動同軸調焦,粗動松緊可調,帶鎖緊和限位裝置 微動格值:0.002mm。 轉換器五孔 外向式滾珠內定位濾色片組黃色、藍色、綠色、磨砂玻璃 載物臺移動范圍X方向：154mm ； Y方向154mm
產品特點 檢測顯微鏡在觀察物體時能產生正立的三維空間影像。立體感強，成像清晰和寬闊，又具有長工作距離，并是適用范圍非常廣泛的常規顯微鏡。 它操作方便、直觀、檢定效率高,適用于電子工業生產線的檢驗、印刷線路板的檢定、印刷電路組件中出現的焊接缺陷(印刷錯位、塌邊等)的檢定、單板PC的檢定、真空熒光顯示屏VFD的檢定等等,它將實物的圖像放大后顯示在計算機的屏幕上，可以將圖片保存，放大，打印。配測量軟件可以測量各種數據。、 電腦型檢測顯微鏡是將精銳的光學顯微鏡技術、 先進的光電轉換技術、普通的電視機完美地結合在一起而開發研制成功的一項高科技產品。從而，我們可以對微觀領域的研究從傳統的普通的雙眼觀察到通過顯示器上再現，從而提高了工作效率。 技術指標 接電視機或電腦上觀察實物圖像。 倍范圍 ： 0.7--4.5X 變 倍 比 ： 6.5：1距調節范圍：55--75mm * 移動工作距離 ： 200mm 工作臺 : 500×580(mm)；移動工作臺: 臺面尺寸: 330×390(mm) X軸移動范圍: 240mm Y軸移動范圍: 350mm； 旋轉工作臺： 臺面直徑： 220mm 圓刻度盤分度范圍: 0---360°圓刻度盤分度值: 1 * 總放大倍數 ： 7—450X (以21寸電視機，2X倍的大物鏡為例)
產品特點 電腦型正置液晶板檢測顯微鏡（透反射光源）適合電子、電路板、液晶板檢測等行業用于觀察透明、半透明或不透明的物資，如集成塊、印刷電路板、液晶板、薄膜、纖維、鍍涂層以及其它非鑫屬材料等，直接用于學校、工廠生產線，實驗室等科研作觀察分析用。 電腦型液晶析檢測顯微鏡系統是將精銳的光學顯微鏡技術、先進的光電轉換技術、尖端的計算機圖像處理技術完美地結合在一起而開發研制成功的一項高科技產品。可以在計算機顯示器上很方便地觀察金相圖像，從而對金相圖譜進行分分析，評級等對圖片進行輸出、打印。 技術指標 目 鏡： 大視野目鏡WF10× 視場直徑16mm 物 鏡： 平場消色差物鏡 數值孔徑NA PL5x 0.12PL10x0.25 PL40x 0.65 PL60x（彈簧） 0.85 三目鏡筒： 旋轉式，傾斜30° 同軸粗微動調焦機構： 調焦范圍15mm 微動格值2μm 機械工作臺： 縱向移動: 50mm 橫向移動:70mm 同軸照明光源： 上光源： 6v20w鹵素燈 亮度可調 透射光源：6v20w鹵素燈 亮度可調 偏光裝置：可插入式起偏振片,垂直照明裝置不僅能進行一般金相分析、微粒分析測試，還可以對不透明物體進行分析、觀察。 濾色片： 藍、黃、綠、磨砂 測量特性 成像系統配套件： 1，電腦型液晶板檢測顯微鏡(A1130738): 1、顯微鏡 2、適配鏡 3、攝像器(CCD) 4、A/D(圖像采集) 5、計算機。 2，數碼相機型液晶板檢測顯微鏡(A1130739): 1、顯微鏡 2、適配鏡 3、專用數碼相機。 系統總放大參考倍數： A1130738電腦型： 50X—2400X （17寸顯示器為例） A1130739數碼型： 50X—2200X (專用數碼相機) 儀器選配件： 1.150萬像素成像系統 2.測量軟件（BT-2000M） 3．目鏡：5X 12.5X 20X 4. 物鏡：20X 50X 80X 100X
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